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光栅沉积真空系统

1、系统真空度:沉积室系统的极限真空:1.0x10-5Pa;样品存放室系统极限真空:1.0x10-4Pa;沉积室工作真空度:从暴露大气开始抽真空,30分钟后,沉积室工作真空度优于2x10-4Pa;样品存放室工作真空度:从暴露大气开始抽真空,30分钟后,样品存放室工作真空度优于1x10-3Pa;系统漏率:1x10-7PaL/S;2、镀膜方式:2.1、每次只镀一个长条形样品;2.2、磁控靶安装在真空室

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详细介绍

1、系统真空度:
沉积室系统的极限真空:1.0x10-5Pa;
样品存放室系统极限真空:1.0x10-4Pa;
沉积室工作真空度:从暴露大气开始抽真空,30分钟后,沉积室工作真空度优于2x10-4Pa;
样品存放室工作真空度:从暴露大气开始抽真空,30分钟后,样品存放室工作真空度优于1x10-3Pa;
系统漏率:1x10-7PaL/S;
2、镀膜方式:
2.1、每次只镀一个长条形样品;
2.2、磁控靶安装在真空室侧面,垂直水平面放置,水平溅射镀膜;
3、基片及运动方式:
3.1、基片工件架采用齿条带动工件架结构,样品在磁控靶下扫描镀膜,伺服电机控制其速度,可编程,行进速度可调;
3.2 、基片位置移动精度优于0.5mm;
4、气路系统:
4.1、3路工艺气体,2路 Ar2和1路N2;
4.2、采用质量流量计控制进气。
5、计算机控制样品行进速度及镀膜工艺自动化。

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